光敏二極管測(cè)量方法

一、電阻測(cè)量法（使用萬(wàn)用表電阻檔）

1、暗阻測(cè)量

操作：將萬(wàn)用表置于電阻檔的高量程（如R×1kΩ或更高）。用遮光物（如黑紙、手）完全罩住光敏二極管，使其處于完全黑暗環(huán)境。將紅、黑表筆分別接觸光敏二極管的兩個(gè)引腳，記錄一次電阻值；然后交換表筆再測(cè)量一次。

現(xiàn)象分析與判斷：

正常情況：第一次測(cè)量（紅表筆接光敏二極管負(fù)極、黑表筆接正極，反向偏置）時(shí)，電阻值（反向暗阻）應(yīng)非常大，通常在幾百kΩ至幾MΩ甚至無(wú)窮大，這反映PN結(jié)在無(wú)光時(shí)的反向截止特性；第二次交換表筆（紅表筆接正極、黑表筆接負(fù)極，正向偏置）時(shí)，電阻值（正向電阻）應(yīng)顯著減小，通常在幾千Ω量級(jí)，這反映PN結(jié)的正向?qū)ㄌ匦浴?/p>

異常情況：如果兩次測(cè)量的阻值都非常小（幾Ω或幾十Ω），說(shuō)明器件內(nèi)部可能已擊穿短路。如果反向暗阻僅為kΩ量級(jí)（遠(yuǎn)小于正常范圍），或正向電阻極大（接近反向暗阻），可能器件已老化或損壞。

2、亮阻測(cè)量

操作：保持萬(wàn)用表電阻檔位不變。用穩(wěn)定光源（如手電筒）近距離照射光敏二極管的受光面。

現(xiàn)象分析與判斷：

正常情況：電阻值應(yīng)顯著下降，通常降至幾kΩ甚至幾百Ω以下（具體數(shù)值與光照強(qiáng)度、器件型號(hào)有關(guān)）。光照越強(qiáng)，阻值越小。這驗(yàn)證了其光電導(dǎo)特性。

異常情況：如果受光照后電阻值變化很小或幾乎沒(méi)有變化，說(shuō)明光敏二極管的光電轉(zhuǎn)換功能失效，可以判定為損壞。

二、電壓測(cè)量法（使用萬(wàn)用表電壓檔）

1、操作：將萬(wàn)用表?yè)苤林绷麟妷簷n（如2V檔）。將紅表筆接光敏二極管正極（陽(yáng)極），黑表筆接負(fù)極（陰極）。在完全黑暗環(huán)境下，測(cè)量其兩端電壓，理論上應(yīng)接近0V。用光源照射其受光面，觀察電壓表示數(shù)。

2、現(xiàn)象分析與判斷：

正常情況：受光后，萬(wàn)用表應(yīng)顯示一個(gè)開(kāi)路正向電壓，通常在零點(diǎn)幾伏特之間。光照越強(qiáng)，產(chǎn)生的光生電壓一般越高。

異常情況：如果無(wú)論有無(wú)光照，電壓始終為0或遠(yuǎn)低于預(yù)期值，則表明器件可能損壞。

三、簡(jiǎn)易響應(yīng)特性與線性度測(cè)試

1、操作：使用電阻測(cè)量法或電壓測(cè)量法作為基礎(chǔ)。在測(cè)量過(guò)程中，快速地在光敏二極管前晃動(dòng)遮擋物，使其處于“明-暗-明”的交替變化中。

2、現(xiàn)象分析與判斷：

正常情況：萬(wàn)用表的示數(shù)（電阻或電壓）應(yīng)能隨著光線的有無(wú)而快速、明顯地跳動(dòng)。這證明器件對(duì)光變化有響應(yīng)。

異常情況：表示數(shù)變化遲鈍、無(wú)變化或變化不規(guī)則，則表明器件響應(yīng)特性差或已損壞。

四、測(cè)量注意事項(xiàng)

1、光源選擇：不同光敏二極管對(duì)波長(zhǎng)（顏色）的敏感性不同。白光光源是通用的選擇，但若知器件對(duì)特定波長(zhǎng)（如紅外）敏感，應(yīng)使用對(duì)應(yīng)光源。

2、避免過(guò)強(qiáng)光照：極端強(qiáng)光（如激光直射）可能永久性損壞光敏二極管的敏感區(qū)。

3、萬(wàn)用表檔位：測(cè)量電阻時(shí)，先從高阻檔位開(kāi)始，避免因低阻檔位的測(cè)試電流過(guò)大而影響判斷或損壞器件。

4、結(jié)果對(duì)比：當(dāng)對(duì)測(cè)量結(jié)果存疑時(shí)，與一個(gè)已知良好的同型號(hào)光敏二極管在相同條件下進(jìn)行對(duì)比測(cè)試，是最可靠的判斷方法。