著錄信息
- 專利名稱：內(nèi)存檢測方法
- 專利類型：發(fā)明
- 申請?zhí)枺?/em>CN201110456651.8
- 公開(公告)號：CN102567159B
- 申請日：20111231
- 公開(公告)日：20141029
- 申請人：曙光信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司
- 發(fā)明人：李波涌
- 申請人地址：300384 天津市西青區(qū)華苑產(chǎn)業(yè)區(qū)(環(huán)外)海泰華科大街15號1-3層
- 申請人區(qū)域代碼：CN120111
- 專利權(quán)人：曙光信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司
- 洛迦諾分類：無
- IPC：G06F11/22
- 優(yōu)先權(quán)：無
- 專利代理機構(gòu)：北京德恒律師事務(wù)所 11306
- 代理人：陸鑫;房嶺梅
- 審查員：郭從征
- 國際申請：無
- 國際公開(公告)：無
- 進入國家日期：無
- 分案申請：無
關(guān)鍵詞
檢測,內(nèi)存,內(nèi)存檢測方法,相結(jié)合,計算機系統(tǒng)
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